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上海納優 低對比度細節檢測模體
  • 產品型號:NY-103
  • 更新時間:2024-07-18
簡要描述:

產品簡介

NY-103低對比度檢測模體

1.滿足《WS76-2020醫用常規X射線診斷設備質量控制檢測規范》

2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和tou視機的低對比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

產品詳情

NY-103低對比度檢測模體

 

產品簡介

 

NY-103低對比度檢測模體

 

  1. 滿足《WS76-2020醫用常規X射線診斷設備質量控制檢測規范》

 

2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和tou視機的低對比分辨力。

 

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

 

NY-103低對比度檢測模體

 

產品簡介

 

NY-103低對比度檢測模體

 

  1. 滿足《WS76-2020醫用常規X射線診斷設備質量控制檢測規范》

 

2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和tou視機的低對比分辨力。

 

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

 

NY-103低對比度檢測模體

 

產品簡介

 

NY-103低對比度檢測模體

 

  1. 滿足《WS76-2020醫用常規X射線診斷設備質量控制檢測規范》

 

2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和tou視機的低對比分辨力。

 

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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